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                                            无损检测仪器设备校准或核查要求
                                             
                                            发布时间:2014.04.11 新闻来源:广东建源检测技术有限公司 浏览次数:
                                             

                                            无损检测仪器设备校准或核查要求

                                            A.1 射线检测

                                            A.1.1 射线设备均应制作曝光曲线,曝光曲线每年至少核查一次;射线设备更换重要部件或经较大修理后,应及时对曝光曲线进行核查。

                                            A.1.2 黑度计(光学密度计)至少每6 个月,应采用标准密度片进行核查,方法参照JB/T 4730.2 附录B 要求。

                                            A.1.3 标准密度片每2 年,应进行校准(或内部校准),方法参照JJG 452-2006《黑白标准密度片检定规程》。

                                            A.1.4 个人剂量计、剂量报警仪应按相关的国家计量检定规程的要求送法定计量检定机构进行检定。

                                            A.1.5 观片灯的亮度和均匀度,应每年进行核查或校准。

                                            A.2 超声检测

                                            A.2.1 初次使用的标准试块、对比试块,应有有效的合格证书。

                                            A.2.2 标准试块、对比试块每次使用前,应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查;每隔4 年应采用经校准的器具对其半径及其它尺寸进行核查。

                                            A.2.3 脉冲反射式超声波探伤仪每1 年,应进行校准(或内部校准),方法参照JJG746-2004《超声波探伤仪检定规程》。

                                            A.2.4 脉冲反射式超声超声波探伤仪每隔3 个月,应采用标准试块进行水平线性、垂直线性核查,方法参照JB/T 10061-1999《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》。

                                            A.2.5 探头使用前,应进行前沿距离(入射点)、K 值(折射角β)与双峰、主声束偏离等主要参数核查,方法参照JB/T 10062-1999《超声探伤用探头 性能测试方法》。

                                            A.2.6 超声检测系统每次使用前,斜探头应进行前沿距离(入射点)、K 值(折射角β)与主声束偏离等核查;直探头应进行始脉冲宽度(在基准灵敏度下)、灵敏度余量和分辨力等核查,方法参照JB/T 9214-1999 《A 型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能 测试方法》和/或JB/T 10062-1999《超声探伤用探头 性能测试方法》。

                                            A.3 磁粉检测

                                            A.3.1 永久磁铁或电磁轭磁粉探伤机的提升力,至少每半年应采用经校准的提升力重力试块进行核查。

                                            A.3.2 提升力重力试块,每2 年应采用经校准的秤重器具进行核查。

                                            A.3.3 磁粉检测设备的电流表,至少每半年进行核查或校准(或内部校准)。

                                            A.3.4 黑光辐照计、照度计、磁场强度计、毫特斯拉计等,至少每年进行核查或校准(或内部校准)。

                                            A.3.5 设备内部短路检查、电流载荷、通电时间等,至少每年进行核查。

                                            A.3.6 磁粉检测系统综合性能(系统灵敏度),每次检测前,用标准试片、标准试块进行核查。

                                            A.3.7 对于荧光磁粉检测,每次检测前,应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查,采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查;对于非荧光磁粉检测,每次检测前,应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。

                                            A.4 渗透检测

                                            A.4.1 黑光辐照度计、荧光亮度计和照度计等,至少每年进行核查或校准(或内部校准)。

                                            A.4.2 对于荧光渗透检测,每次检测前,应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查,采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查;对于非荧光渗透检测,每次检测前,应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。

                                            A.5 厚度检测

                                            A.5.1 超声测厚仪每1 年,应进行校准(或内部校准),方法参照JJG 403-1986《超声波测厚仪检定规程》或 JJF11266-2004《超声波测厚仪校准规范》。

                                            A.5.2 涂层测厚仪每1 年,应进行校准(或内部校准),方法参照JJG 889-1995《磁阻法测厚仪检定规程》、JJG818-1993《电涡流式测厚仪检定规程》。

                                             
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